本試驗(yàn)設(shè)備是電工電器、航空、汽車、家電、涂料、化工、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

攝像機(jī)的恒溫恒濕老化試驗(yàn)箱在一定空間內(nèi)形成特定溫濕度的設(shè)備，適用于電子產(chǎn)品及電子零部件、材料、纖維、制藥、電池等現(xiàn)代工業(yè)產(chǎn)品耐久性和可靠性測試的設(shè)備。在設(shè)定時(shí)間內(nèi)模擬形成各種嚴(yán)酷氣候條件，可預(yù)測正常條件下的耐久性試驗(yàn)。在加溫、冷卻、除濕、加濕調(diào)和控制下形成高精度的溫濕度環(huán)境。

攝像機(jī)的恒溫恒濕老化試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

        GB/T5170.2-2008溫度試驗(yàn)設(shè)備

　　 GB/2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低溫試驗(yàn)方法AB。

　　 GB/2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗(yàn)方法BA。

　　 GB/T5170.5-2008濕熱試驗(yàn)設(shè)備。

　　 GJBl50．4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

　　 GB2423．3-93(IEC68-2-3)試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法。

　　 GB2423．4-93(IEC68-2—30)試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法。

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